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仕様

蛍光x線分析装置/xrf分析装置/蛍光x線分光計、 測定素子: au、 ag、 pt、 pd、 rh、 ru、 cu、 zn、 ni、 cd、 で。

蛍光x線分析装置/xrf分析装置/蛍光x線分光計

(モデル: sq-8800含む、 デスクトップコンピュータ、 貴金属のために)

測定素子: au、 ag、 pt、 pd、 rh、 ru、 cu、 zn、 ni、 cd、 で。;

技術的なパラメータ:

1.siピン半導体検出器、 解像度150evよりも良いの;

2.分析範囲: 0.1%- 99.9％;

3.エネルギー分析: 2-30kev;

4.8時間の連続determinationrsd・ル; 0.25%;

5.温度係数・ル; 0.0004/・度; c;

6.作業環境温度:- 10~45・度; c;

7.標準偏差: ・ル; 0.08%( on12歴代の分析は、 同じサンプルデータ統計);

8.実験室定量的なアナライザ;

9.分析時間: 2分;

10。 消費電力:< 200w;

11.本機の重量: 50kg;

12.主な仕様: 50*50*50cm。

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