製品情報

包装

仕様

Xrf分析装置: 要素分析: au、 ag、 pt、 pd、 rh、 ru、 cu、 zn、 ni、 cd、 で、 os、 ir、 w( アルからuに周りに、 79要素)

Xrf分析装置/金属テスター

(モデル: sq-9800、 と兄弟とシンクパッドのプリンタ、 へナのためのu)

Sq-9800が統合されたラップトップ、 それ故に、 で接続する必要がなく、 外部のコンピュータ; それ・rsquo; なお自動sも設置されている抗- 放射線でデバイスユーザーのセキュリティを確保するため。 超- 高解像力は簡単に解決する任意の複雑さのための要件非- 破壊的な貴金属業界における分析。 最上級の分光器の間で貴金属業界における、 sq-9800は最高の競争力の一つ。

ソフトウェアバージョン:Xrf6.0。 ハードウェアとのパラメータ調整とデータ評価と計算システム。 結果表示の両方で割合とカラット。 自動的にリピートを何回もテストと平均結果を得る。 多くの異なるテストレポート形式を満たすために異なる顧客・rsquo; s印刷要件。

要素分析:au,ag,pt,pd,rh,ru,cu,zn,ni,cd,で,os,ir,W( アルからuに、 周りに79要素)

分析範囲:0.01%~99.99％

試験時間:30秒( オペレーター可能性があり時間を設定状況に応じ)

ハードウェア

楽器の大きさ:ミリメートルl605mm*w432mm*h284

チャンバーサイズサンプル:l227mm*w: 188mm*h: 35~75mmの

テストポイントの次元:1~2mm

検査精度:+/- 0.01%- 0.1%

現在の楽器:300w

高電圧テンプレート:4~50kv

x線源:mo材料x線光管( 風クール、 無輻射)

検出器:siピン( 冷却: 半導体)

被覆層測定:被覆層厚さの範囲< 30・ムー; m

コンピュータ:ibm

オペレーションシステム:windows7

正味重量:35kg

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