製品情報
原産地: 中国(本土) | 銘柄: gsh | モデル番号: exf8200 |
要素分析: au、 ag、 pt、 pd、 rh、 ru、 cu、 zn、 ni、 cd | 分析範囲: 0.3%~99.99% | テストポイントの次元: 1~2mm |
サンプルケースサイズ: ミリメートル0~90 | サイズ分光計: ミリメートルl500mm*w450mm*h350 | 試験時間: 秒1~3内の要素を確認 |
検査精度: +/- 0.1% | 高圧テンプレート: 4~50kv | 最大。 パワー: 120w |
重量: 35kg |
包装
包装: に満足し、 国際的な輸出基準。 |
仕様
Xrfexf8200金分光1.良い品質2.低価格3.速い配達4.支払: tt、 西連合
Xrfexf8200金分光/ジュエリーの純度試験機
1.機能
exf8200タイプは最高の競争力に基づいてその精度と価格。 追加
マルチ- ノードプリを開始- インストールの許容度を減らすだけでなく楽器の繰り返し
周波数だけでなく、 使用時間の最大値を延ばす。 本当の- 時間監視システムのヘルプを参照するために
維持する装置を持っている方が簡単
2.詳細な特徴
要素分析: au、 ag、 pt、 pd、 rh、 ru、 cu、 zn、 ni、 cd
分析範囲: 0.3%~99.99%
テストポイントの次元: 1~2mm
サンプルケースサイズ: ミリメートル0~90
サイズ分光計: ミリメートルl500mm*w450mm*h350
試験時間: 秒1~3内の要素を確認、 オペレータに時刻を設定可能性がありをテスト
Indensity要素。)
検査精度: +/- 0.1%精度を保つことができる0.1%戦は数の繰り返し試験)
高圧テンプレート: 4~50kv
X線源: mo材料x線光管( 風クール、 無輻射)
最大。 パワー: 120w
重量: 35kg
検出器: hermitic比例計数、 マイクロプロセッサを搭載した
被覆層測定: 被覆層厚さの範囲< 30・ムー; m
8ファンは、 循環器系の、 温度制御システム身を守ることができ