| 原産地: | 中国(本土) | 銘柄: | 日光 | モデル番号: | Ct-115b | 測定範囲: | 0~1250um、 0~50mil | 解像度: | 0.1um( 0~99.9um)/1um( オーバー100um以下) | 精度: | 1~3%nまたは2.5umまたは0.1ミル( 大きいは方) | センサー: | 構築された | methord測定: | fとnf型 | データロガー: | 測定結果99グループ |
包装
| 包装: | キャリングケース |
塗る厚さゲージ、 データロガー、 連続測定f/ct-115bnf
説明:
統計的型膜厚計シリーズct-1152つのタイプがあり: タイプb( 整数型)、 型bs( セパレートタイプ); の99グループを格納することができ、 最新の測定値; インテグラルに適したタイプシングル- 手元操作、 大規模なローブを持った方が良い大きな接触面安定性、 連続ユーザーが得ることができる、 良い反復的で正確な測定。
いくつかのセパレートタイプを提供することができ型プローブ、 に、 より柔軟性測定することができます。 それは一種の携帯測定器、 それはすぐに、 ノーダメージであり、 精密コーティング、 の膜厚測定; することができるだけではなく研究室で使用、 また、 使用することができフィールドエンジニアリングでは; の使用を介して異なる測定ヘッド、 ことができるだけでなく、 のニーズを満たすの様々な測定; 製造に広く使われている、 金属加工業界、 化学工業、 テストの電界とcommodityinspection; プロの保護は物質。 必要な機器。
仕様:
測定範囲 | 0~1250um |
0~50mil( 他の5月範囲指定) | |
解像度 | 0.1um( 0~99.9um)/1um( オーバー100um以下) |
精度: | 1~3%nまたは2.5umまたは0.1ミル( 大きいは方) |
最小測定エリア | ミリメートル6 |
最小限の表面 | F型conve*1.5mm/25ミリメートル凹面 |
Nf型conve*3mm/50mm凹面 | |
| データロガー | 測定結果99グループ |
| 動作条件 | Temp: 0~50・度; c/ |
湿度:< 95％ | |
サイズ | ミリメートル140*70*30 |
電源 | 2*1.5vaaaum-4バッテリー |
重量 | 130g( 電池を含めていない) |
アクセサリー:
標準付属品 | メインユニット |
| 校正用フォイル | |
基板( 鉄) | |
基板( アルミ) | |
キャリングケース | |
取扱説明書 | |
オプションのアクセサリ | usbデータ出力 |
ブルートゥースデータ出力 |
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