製品情報

包装

仕様

Lteusimテストカードtd-lteテストsimカード高品質で低コストプロのr& dチーム

プロのlteusimテストカードtd-lteテストsimカード

*chipパラメータ

は、 高性能で使用されるicスマートカード。 チップにあり、 8ビットマイクロプロセッサバイト48kmemorizerプログラム(マスクrom)、内部ram256バイト(sram)

外1kバイトram( sram)、 データmemorizer32kバイト( eeprom)、 と、 カード本体は、 absまたはpvc材料。

キャラクター* mainなチップ

Cpu: 8ビットcpu

*memorizer( 32k)

インナー- 256バイトram( 256×8ビットsram)

-1k外側バイトram( 1024×8ビットsram)

-48kバイトmemorizerプログラム( 48kx8ビットrom)

-32kバイトデータmemorizer( 32kx8ビットのeeprom)

*Eeprom( 32k)

-32keepromデータmemorizerとして

-シングルバイト読み、 書き込み、 して拭いてください

-マルチバイトストレージ(1バイトに1ページ)

-プログラムから来るクロックが振動によって生成されたチップ自体クロックです

-、 常温で、 少なくとも100進めることができる、 000回消去および書き込み操作。 

-eeprom10年以上データの耐久性

-eepromプログラム、 チップ内の発生する電圧

*seriali/oインタフェース

一致させるiso/iec-7816

非同期半二重伝送プロトコル

伝送速度の2種類( 372/1と512/8) オプション

*randomizer

8- ランダマイザビット

リセット時に* power

内部電源リセット時に機構

*lowパワーの仕事モード

スリープモード

クロック停止モード

*safety機構

異常電圧/周波数検出機能、 dpa/spsを攻撃する免疫力

*work温度

-25℃〜+70c

*work電圧

3.3v2.7v〜、 〜5.5v4.5v

*work周波数

-1は5mhz( 3.57mhz)

Simカード* test仕様:

Grcard2.5グラムテストsimカードに使用することができ、 agilent8960および他。 セットをテストするために実行時に任意のgsmテストまたはラボ·アプリケーション。

※simは、 いくつかの利点:

-umtsセキュリティ変数sim内のデフォルト設定に一致するのはgsm試験やラボ用途

-セットアップは低下している時間が設定されているシムと同じデフォルトimsiとplmnの値から放送テストセット

のために- デュアル- モードテスト、 gsmgsmスピーチループバックためにサポートされているビットエラー比( ber) の測定値

お取引の流れ→ (詳細を確認こちらをクリツク！)